IDT 逻辑军品流程 - QML 变更
主题：逻辑产品老化后 PDA 电气测试和 -55°C 电气测试

IDT 公司致力于支持军品市场。1998 年，IDT 就成为了完全合格的MILPRF- 38535 QML 制造商。IDT 公司的产品质量和可靠性水平满足并超过了 MIL-STD-883 和 MIL-PRF-38535 的要求。

为了将 ESO/ESD 破坏和机械破坏风险降至最低，IDT 用 125°C 老化后 PDA 电气测试取代了 25°C 老化后 PDA 电气测试。PDA 为 125°C 条件下值的 5%，它代表大多数数据表参数的最差温度条件。如果 PDA 测试失败，IDT 保留采用 25°C PDA 电气测试进行重新测试/重新计算的权利。该变更适用于所有 IDT 逻辑军品。25°C 下的电气测试需在盖章许可情况下完成（100%）。取代 25°C 老化后测试可简化流程，并最大限度地减少对这些精密电路的处理量。

此外，查看这些逻辑产品的军方测试流程，就会发现设计规则、防护频带和特殊测试采用了不必要的 –55°C电气测试。逻辑产品 –55°C 电气测试的数据历史表明没有失败的记录。因此，IDT 逻辑军品已经完全取消了 –55°C 电气测试。非增值测试的消除可减少器件的处理量，因此可以最大限度地降低 EOS/ESD 破坏和机械破坏的风险。该变更对提供的产品质量和可靠性没有任何影响。

附件：IDT 逻辑军品流程（pdf 文件）